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    SGW X-4A-顯微熔點儀 上海儀電

    • 供應數(shù)量:2650
    • 發(fā)布日期:2024/12/12
    • 有效日期:2025/6/12
    • 原 產 地:上海儀電
    • 已獲點擊:2650

    產品分類

    詳細介紹

    性能指標

    熔點測量范圍:室溫至320℃

    zui小讀數(shù):0.1℃

    測量重復性:±1℃(在<200℃時) 
              ±2℃(在200~300℃時)

    光學放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X

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